IRT Saint Exupéry • Technological Research Institute

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689 documents

  • J.D. Aguirre Morales, F. Marc, A. Bensoussan, A. Durier. Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.1130-1134. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.151⟩. ⟨hal-01946442⟩
  • Yuanci Zhang, Olivier Briat, Jean-Yves Delétage, Cyril Martin, Nicolas Chadourne, et al.. Efficient state of health estimation of Li-ion battery under several ageing types for aeronautic applications. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.1231 - 1235. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.038⟩. ⟨hal-01892422⟩
  • Omar Chihani, Loïc Théolier, Alain Bensoussan, Jean-Yves Delétage, André Durier, et al.. Effect of HTRB lifetest on AlGaN/GaN HEMTs under different voltages and temperatures stresses. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.402-405. ⟨10.1016/j.microrel.2018.07.076⟩. ⟨hal-02499971⟩
  • Karim Elayoubi, Angélique Rissons, Aniceto Belmonte. Optical test bench experiments for 1-Tb/s satellite feeder uplinks. Laser Communication and Propagation through the Atmosphere and Oceans VII, Aug 2018, San Diego, United States. pp.1-12, ⟨10.1117/12.2317728⟩. ⟨hal-01902684⟩
  • Bernardo Cougo, Raphael Riva, Hans Hoffmann Sathler. Caractéristiques de commutation d'un module SiC faible inductance avec condensateurs intégrés pour les applications aéronautiques. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02981826⟩
  • Anne Castelan, Bernardo Cougo, Sébastien Dutour, Thierry Meynard. Optimisation de dissipateurs à ailettes pour des convertisseurs utilisant des composants puissance discrets. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02981897⟩
  • Bernardo Cougo, Lenin Morais, Raphael Riva. Influence de méthodes PWM sur le cyclage thermique des semiconducteurs d'un onduleur SiC triphasé 15kVA. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02981875⟩
  • Omar Chihani, Loïc Théolier, Alain Bensoussan, Pierre Bondue, Jean-Yves Deletage, et al.. L'effet de la température et de la tension sur des vieillissements HTRB et HTGB pour des HEMTs GaN de puissance. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02981877⟩
  • Robin Acheen, Thierry Lebey, Cédric Abadie, Stéphane Duchesne. Etude des contraintes électriques et des décharges partielles dans un moteur de type II alimenté par des convertisseurs IGBT et SiC MOSFET. Symposium de Génie Electrique, Université de Lorraine [UL], Jul 2018, Nancy, France. ⟨hal-02983354⟩
  • Plinio Bau, Marc Cousineau, Bernardo Cougo, Frédéric Richardeau, Davy Colin, et al.. A CMOS gate driver with ultra-fast dV/dt embedded control dedicated to optimum EMI and turn-on losses management for GaN power transistors. 2018 14th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), Jul 2018, Prague, France. pp.105-108, ⟨10.1109/PRIME.2018.8430331⟩. ⟨hal-02335492⟩

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